2009年12月19日，MADISON – 服務科學的世界領導者賽默飛世爾科技近日宣布，全新Thermo Scientific Escalab 250Xi光電子能譜儀(XPS)是一種全集成式表面表征工具，專門設計用于滿足從事表面，薄膜和涂層的常規表征工作，乃至前沿表面化學研發的工程師們的要求。

　　Escalab 250Xi是享譽世界的Thermo Scientific Escalab產品線的最新產品。該全新設備集成了出色的光譜儀性能和Thermo Scientific Avantage XPS采集和處理用戶界面。這種儀器與軟件的組合不僅具有高樣品通量，而且具有市場領先的分析性能，尤其適用于當今表面分析領域中復合材料的表征。另外，高級平行圖像監測系統的集成可對圖像視場內的微小特征進行定量光譜分析。

　　Avantage數據系統利用一種優化的工作流程提供優異的分析效率，該流程可以指導分析人員進行數據采集，解析，處理和報告生成。Avantage在進行一系列XPS光譜和圖像處理任務時，還具有全數字工具控制。只需點擊一下鼠標，即可利用自定義的實驗室報告模板輕松將分析報告輸出到標準PC應用程序中，例如Microsoft® Office。

　　Escalab 250Xi平臺具有非凡的靈活性，因此分析人員可以利用一系列其他表面表征工具配置該系統。儀器配備了離子散射譜(ISS)和反射電子能量損失譜(REELS)，同時可選配紫外光電子能譜(UPS)和俄歇電子能譜(AES)。儀器的標準配置還包括了樣品制備室。如果需要，可以利用樣品制備選項和附加的實驗樣品室擴展該系統。